Productinformatie

Partector TEM Sampler

De Partector TEM Sampler van Naneos is een compact instrument dat de techniek van een Naneos Partector combineert met een elektrostatische stofcollector, om nanopartikelen direct op een TEM-raster af te zetten voor analyse. Het resultaat: Een eenvoudig onderzoeksinstrument om effectief bronnen van nanopartikelen op te sporen op de werkplek om deze vervolgens direct op een Transmissie Elektronen Microscoop (TEM) te deponeren. 

De Partector TEM Sampler bepaalt automatisch de
optimale bemonsteringstijd en stopt met bemonsteren wanneer verzadiging van het TEM-raster bereikt is.  Meetgegevens worden weergegeven op een grafisch display en daarnaast opgeslagen op een SD-kaart. 

Belangrijkste eigenschappen

• LDSA-meting met een tijdresolutie van 1 seconde
  
  
• Groot concentratiebereik, van 1-20.000 µm²/cm³
• Groot deeltjesgroottebereik, van 10 nm tot 10 µm
  
  
• Elektrostatische afzetting van deeltjes op standaard 3,05 mm TEM-roosters
• Debiet: 0,45 lpm
  
  
• Gegevensopslag op een µSD-kaart (genoeg ruimte voor vele jaren gegevens!)
  
  
• Alarm voor hoge concentraties met instelbare drempel